Crystallization time dependance on SbTe based phase-change films measured by rotating disc techniques

Crystallization time dependance on SbTe based phase-change films measured by rotating disc techniques
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通过转盘技术测量 SbTe 基相变薄膜的结晶时间依赖性

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
他4名
他4名
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Roblert Simpson (筆頭);他4名

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