M.Kawasaki: "Structural Characterization of Amorphous Semiconductor Heterojunctions by in situ XPS" Journal of Non-Crystalline Solids. 114. 756-758 (1989)
M.Kawasaki: "Structural Characterization of Amorphous Semiconductor Heterojunctions by in situ XPS" Journal of Non-Crystalline Solids. 114. 756-758 (1989)
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M.Kawasaki：“通过原位 XPS 对非晶半导体异质结进行结构表征”非晶固体杂志。
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