劣化エピラキシャル成長したSiGe膜の熱電特性?基板の影響?
劣化エピラキシャル成長したSiGe膜の熱電特性?基板の影響?
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退化的外延生长 SiGe 薄膜的热电性能？衬底的影响？
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐々木
中科院分区：
文献类型：
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作者：
的場;早平;佐々木
