超高圧電子顕微鏡によるSi結晶中の亀裂先端転位三次元構造解析
超高圧電子顕微鏡によるSi結晶中の亀裂先端転位三次元構造解析
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使用超高压电子显微镜对硅晶体裂纹尖端位错进行三维结构分析
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
東田賢二
中科院分区：
文献类型：
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作者：
田中將己;定松直;東田賢二
