BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法
BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法
复制标题
BIST 中高质量延迟故障测试的种子选择方法
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
竹谷啓
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hidetaka Muguruma;Yuichi Tsujita;竹谷啓
