X-ray fluorescence holography of 0.078 wt% copper in silicon steel
X-ray fluorescence holography of 0.078 wt% copper in silicon steel
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X射线%20荧光%20全息%20of%200.078%20wt%%20铜%20in%20硅%20钢
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Hayashi et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.H.Okabe;O.Takeda;岡部 徹;K.Hayashi et al.
