Measurement of optical thickness variation of BK7 plate by wavelength tuning interferometry
Measurement of optical thickness variation of BK7 plate by wavelength tuning interferometry
复制标题
波长调谐干涉测量BK7板光学厚度变化
DOI：
10.1364/oe.23.022928
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
3.8
通讯作者：
Naohiko Sugita and Mamoru Mitsuishi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yangjin Kim;Kenichi Hibino;Naohiko Sugita and Mamoru Mitsuishi
