ガウス過程回帰に基づくLSI テストにおける適応的良品判定基準決定手法
ガウス過程回帰に基づくLSI テストにおける適応的良品判定基準決定手法
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基于高斯过程回归的LSI测试自适应验收标准确定方法
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
新谷道広
中科院分区：
文献类型：
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作者：
五枝大典;中村友紀;梶山賀生;栄木誠;新谷道広
