極薄SOI膜のゼーベック係数制御とナノ構造熱電特性測定技術の構築
極薄SOI膜のゼーベック係数制御とナノ構造熱電特性測定技術の構築
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超薄SOI薄膜塞贝克系数控制及纳米结构热电性能测量技术构建
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
池田浩也，鈴木悠平，三輪一聡，ファイズ・サレ
中科院分区：
文献类型：
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作者：
F. Salleh;T. Oda;Y. Suzuki;Y. Kamakura;H. Ikeda;池田浩也，鈴木悠平，三輪一聡，ファイズ・サレ
