Cyclotron Masses in Semiconducting Bi1-xSbx Alloys
Cyclotron Masses in Semiconducting Bi1-xSbx Alloys
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DOI:
10.1002/pssb.2220750119
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发表时间:
1976-05
影响因子:
1.6
通讯作者:
G. Oelgart;R. Herrmann
中科院分区:
文献类型:
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作者:
G. Oelgart;R. Herrmann
Cyclotron resonance measurements are carried out on a great number of semiconductive Bi1–x-Sbx; alloys in the range of 0.07 < x ≦ 0.17. The measuring frequencies are 35 and 70 GHz, and the measurements are carried out at helium temperatures. For the smallest cyclotron mass, a linear relationship to the antimony concentration is found. The more rapid increase of the great cyclotron masses and the associated increase of the elongation of the iso-energy surfaces with increasing antimony concentration presents the greatest difficulty as compared to the known dispersion relations of the electron bands. An einer grosen Anzahl von halbleitenden Bi1–x Sbx -Legierungen im Bereich 0,07 < < x ≦ 0,17 werden Zyklotronresonanzmessungen bei Mesfrequenzen von 35 und 70 GHz und Heliumtemperaturen durchgefuhrt. Fur die kleinste Zyklotronmasse wird ein linearer Zusammenhang mit der Antimonkonzentration gefunden. Das starkere Anwachsen der grosen Zyklotronmassen und die damit verbundene Zunahme der Streckung der Isoenergie-flachen mit der Antimonkonzentration stellt die groste Schwierigkeit beim Vergleich mit den bekannten Modellvorstellungen dar.