In situ synchrotron stress mappings to characterize overload effects in fatigue crack growth
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DOI：
10.1016/j.ijfatigue.2018.12.013
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发表时间：
2019-04
影响因子：
6
通讯作者：
M. Thielen;F. Schaefer;Patrick Gruenewald;M. Laub;M. Marx;M. Meixner;M. Klaus;C. Motz
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Thielen;F. Schaefer;Patrick Gruenewald;M. Laub;M. Marx;M. Meixner;M. Klaus;C. Motz
