Point Defects in Semiconductors

Point Defects in Semiconductors
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半导体中的点缺陷

DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S. Pizzini
S. Pizzini
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
S. Pizzini

文献摘要

参考文献

被引文献

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Formation of size-controlled silicon nanocrystals in plasma enhanced chemical vapor deposition grown SiOxNy/SiO2 superlattices
DOI： 10.1016/j.tsf.2011.06.084
发表时间： 2011-10-31
期刊： THIN SOLID FILMS
影响因子： 2.1
作者：
Hartel, A. M.;Hiller, D.;Zacharias, M.
通讯作者： Zacharias, M.