サブテラヘルツ波を用いたポジトロニム超微細構造の直接測定
サブテラヘルツ波を用いたポジトロニム超微細構造の直接測定
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使用太赫兹波直接测量正电子超精细结构
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.Sabchevski
中科院分区：
文献类型：
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作者：
山崎高幸;宮崎彬;末原大幹;難波俊雄;浅井祥仁;小林富雄;斎藤晴雄;小川勇;出原敏孝;S.Sabchevski
