時間分解二光子光電子分光法によるInGaN/GaN量子井戸のキャリア寿命評価
時間分解二光子光電子分光法によるInGaN/GaN量子井戸のキャリア寿命評価
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使用时间分辨双光子光电子能谱评估 InGaN/GaN 量子阱的载流子寿命
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
保田 英洋
中科院分区：
文献类型：
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作者：
市川 修平;藤原 康文;保田 英洋
