Kelvin probe force microscopy for the characterization of semiconductor surfaces in chalcopyrite solar cells
Kelvin probe force microscopy for the characterization of semiconductor surfaces in chalcopyrite solar cells
复制标题
用于表征黄铜矿太阳能电池中半导体表面的开尔文探针力显微镜
DOI：
10.1016/s0039-6028(01)00878-0
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发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Lux‐Steiner
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Sommerhalter;S. Sadewasser;T. Glatzel;T. Matthes;A. Jäger;M. Lux‐Steiner
