低融点金属薄膜を用いたSi/Cu接合における熱応力
低融点金属薄膜を用いたSi/Cu接合における熱応力
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使用低熔点金属薄膜的 Si/Cu 键合中的热应力
DOI:
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发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
多田羅哲,渡邉佑人,福本信次,松嶋道也,藤本公三
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Y. Yamauchi;S. Kobayashi;S. Okano;K. Kuroda;T. Okamoto;T. Sakamoto;萩原幸司;五十嵐健太,黒田健介,興戸正純;松本翼;中甑慶太,岡野 聡,小林千悟,黒田健介,岡本威明;多田羅哲,渡邉佑人,福本信次,松嶋道也,藤本公三