Yoshihisa Sakaida: "Local Stress Measurement in Notched Sapphire by Raman Microspectroscopy"Materials Science Research International. 6・4. 295-300 (2000)
Yoshihisa Sakaida: "Local Stress Measurement in Notched Sapphire by Raman Microspectroscopy"Materials Science Research International. 6・4. 295-300 (2000)
复制标题
Yoshihisa Sakaida：“通过拉曼显微光谱法测量缺口蓝宝石中的局部应力”材料科学研究国际 6・4（2000 年）。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
