Recent Development of Microwave Reflectometer for Density Profile and Fluctuation Measurements on LHD
Recent Development of Microwave Reflectometer for Density Profile and Fluctuation Measurements on LHD
复制标题
用于 LHD 密度剖面和波动测量的微波反射计的最新进展
DOI:
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发表时间:
2005
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
T.Tokuzawa
中科院分区:
文献类型:
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作者:
T.Tokuzawa