in situ 電子線ホログラフィー観察のための漏れ電場遮断TEM試料作製技術の開発
in situ 電子線ホログラフィー観察のための漏れ電場遮断TEM試料作製技術の開発
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原位电子束全息观察漏场截止TEM样品制备技术开发
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
野村優貴，山本和生，斉藤晃，平山司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Ogawa;M. Suzuki;K. Miura and N. Sasaki;橋本守;野村優貴，山本和生，斉藤晃，平山司
