Aspect Ratio Dependence of the Resistivity of Fine Line Cu lnterconnects

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细线铜互连电阻率与纵横比的关系

DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
Jpn.J.Appl.Phys. 46
影响因子:
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通讯作者:
Chonan
Chonan
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
K.P.;Khoo・J.;Onuki・T.;Nagano・Y.;Chonan

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