Low-temperature X-ray Ellipsometry with a Liquid-helium Cryostat

Low-temperature X-ray Ellipsometry with a Liquid-helium Cryostat
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使用液氦低温恒温器进行低温 X 射线椭偏仪

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
Photon Factory Activity Report (KEK) 23・B
影响因子：
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通讯作者：
Ueji
Ueji
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Yoshinori;Ueji

文献摘要

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