F.Iwata, K.Mikage, H.Sakaguchi, M.Kitao, A.Sasaki: "Current-sensing scanning near-field optical microscopy using a metal probe for nanometer-scale observation of electrochromic film"J.Microscopy. 210. 241-245 (2003)
F.Iwata, K.Mikage, H.Sakaguchi, M.Kitao, A.Sasaki: "Current-sensing scanning near-field optical microscopy using a metal probe for nanometer-scale observation of electrochromic film"J.Microscopy. 210. 241-245 (2003)
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F.Iwata、K.Mikage、H.Sakaguchi、M.Kitao、A.Sasaki：“使用金属探针进行电致变色薄膜纳米级观察的电流感应扫描近场光学显微镜”J.Microscopy。
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