Nanoscale Permittivity Imaging Using ∂C/∂z-mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Nanoscale Permittivity Imaging Using ∂C/∂z-mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
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使用 ∂C/∂z 模式扫描非线性介电显微镜进行纳米级介电常数成像
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Hiranaga and Y. Cho
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Goto;S. Matsuyama;H. Nakamori;H. Hayashi;T. Kimura;K. P. Khakurel;Y. Kohmura;Y. Sano;M. Yabashi;T. Ishikawa;Y. Nishino;and K. Yamauchi;Y. Hiranaga and Y. Cho
