バルク半導体・超構造・電子デバイスの超高周波評価技術(招待講演)
バルク半導体・超構造・電子デバイスの超高周波評価技術(招待講演)
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大块半导体、上部结构和电子器件的超高频评估技术（特邀报告）
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
平川一彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Nakamura;F.;平川一彦
