Native point defect analysis in non-stoichiometric GaAs: an annealing study
Native point defect analysis in non-stoichiometric GaAs: an annealing study
复制标题
非化学计量 GaAs 中的本征点缺陷分析：退火研究
DOI：
10.1016/s0921-4526(99)00621-3
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发表时间：
1999
影响因子：
2.8
通讯作者：
E. Weber
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Lutz;P. Specht;R. Zhao;O. H. Lam;F. Börner;J. Gebauer;R. Krause;E. Weber
