Investigating the impact of the defect dynamic characteristics on the PBTI in the high-kappa gate device
Investigating the impact of the defect dynamic characteristics on the PBTI in the high-kappa gate device
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研究高 kappa 栅极器件中缺陷动态特性对 PBTI 的影响
DOI：
10.1016/j.microrel.2017.11.012
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发表时间：
2018
影响因子：
1.6
通讯作者：
Duan Tianli
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Liu Xianqiang;Xu Xiaodi;Gu Chenjie;Gu Renyuan;Wang Weiwei;Liu Wenjun;Duan Tianli
