Feasibility study of non-destructive defect analysis by positron annihilation lifetime measurement
Feasibility study of non-destructive defect analysis by positron annihilation lifetime measurement
复制标题
正电子湮没寿命测量无损缺陷分析的可行性研究
DOI：
10.35848/1347-4065/ab9163
复制
发表时间：
2020
影响因子：
1.5
通讯作者：
Kobayashi Yoshinori
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yamawaki Masato;Uesugi Naoya;Kobayashi Yoshinori
登录
查看更多内容
双启动/停止数据采集正电子寿命测量中的漂移补偿
影响因子：
1.5
作者：
M. Yamawaki;N. Uesugi;H. Ando and Y. Kobayashi
通讯作者：
H. Ando and Y. Kobayashi
使用正电子探针显微分析仪对平均正电子寿命分布进行成像
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
Journal of Physics Conference Series
影响因子：
--
作者：
大島永康;他
通讯作者：
他
分析结构缺陷的正电子寿命方法。
DOI：
10.2320/materia.37.61
发表时间：
1998
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Y. Shirai
通讯作者：
Y. Shirai
SiO2-玻璃正电子湮灭结晶化的研究
影响因子：
1.6
作者：
C. Hugenschmidt;U. Holzwarth;M. Jansen;S. Kohn;K. Maier
通讯作者：
K. Maier
强正电子微探针正电子湮没寿命测量系统
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
Radiation Physical Chemistry 78
影响因子：
--
作者：
N.Oshima;R.Suzuki;T.Ohdaira;A.Kinomura;T.Narumi;A.Uedono;M.Fujinami
通讯作者：
M.Fujinami