蓄積電荷測定法による金/ペンタセン界面の電子注入障壁測定
蓄積電荷測定法による金/ペンタセン界面の電子注入障壁測定
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使用累积电荷测量方法测量金/并五苯界面的电子注入势垒
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小田 丈志，田島 裕之，角屋 智史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yusuke Morisawa;Nami Ueno;小田 丈志，田島 裕之，角屋 智史
