T.M.Hansen, K.Stokbro, 他4名: "Resolution enhancement of scanning four-point probe measurement on 2D systems"Review of Scientific Instruments. 74. 3701-3708 (2003)
T.M.Hansen, K.Stokbro, 他4名: "Resolution enhancement of scanning four-point probe measurement on 2D systems"Review of Scientific Instruments. 74. 3701-3708 (2003)
复制标题
T.M.Hansen、K.Stokbro 和其他 4 人：“二维系统上扫描四点探针测量的分辨率增强”科学仪器评论 74. 3701-3708 (2003)。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
