三点支持裏返し法によるシリコンウェーバ板厚測定精度の向上
三点支持裏返し法によるシリコンウェーバ板厚測定精度の向上
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利用三点支撑翻转法提高硅片板厚测量精度
DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
伊藤 幸弘
中科院分区:
文献类型:
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作者:
伊藤幸弘,夏恒,国枝正典;伊藤幸弘;伊藤幸弘,夏恒,国枝正典;伊藤 幸弘