Numerical simulation of forward problem for electrical capacitance tomography using element-free Galerkin method
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DOI：
10.1016/j.enganabound.2009.11.007
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发表时间：
2010-05
影响因子：
3.3
通讯作者：
Lifeng Zhang;Pei Tian;Xiu-Zhang Jin;Wei-guo Tong
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Lifeng Zhang;Pei Tian;Xiu-Zhang Jin;Wei-guo Tong
