Takayoshi Shimura: "X-RAY DIFFRACTION EVIDENCE FOR THE EXISTENCE OF EPITAXIAL MICROCRYSTALLITES IN THERMALLY OXIDIZED SiO_2 THIN FILMS ON Si(111)SURFACES" J.Cryst.Growth. (in press).
Takayoshi Shimura: "X-RAY DIFFRACTION EVIDENCE FOR THE EXISTENCE OF EPITAXIAL MICROCRYSTALLITES IN THERMALLY OXIDIZED SiO_2 THIN FILMS ON Si(111)SURFACES" J.Cryst.Growth. (in press).
复制标题
Takayoshi Shimura：“Si(111) 表面热氧化 SiO_2 薄膜中外延微晶存在的 X 射线衍射证据”J.Cryst.Growth。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
