Single-step absorption and phase retrieval with polychromatic x rays using a spectral detector.
Single-step absorption and phase retrieval with polychromatic x rays using a spectral detector.
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使用光谱检测器，单步吸收和相位检索。
DOI：
10.1364/ol.38.001461
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发表时间：
2013-05-01
期刊：
影响因子：
3.6
通讯作者：
Das M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Gürsoy D;Das M
在这封信中，我们提出了一个单步方法，同时检索X射线吸收和相位图像有效的成像能量和材料特性的广泛范围。我们的方法依赖于光谱分辨强度测量的可用性，这是现在可能使用半导体X射线光子计数探测器。新的检索方法的推导和结果显示出良好的一致性。
In this letter we present a single-step method to simultaneously retrieve x-ray absorption and phase images valid for a broad range of imaging energies and material properties. Our method relies on the availability of spectrally resolved intensity measurements, which is now possible using semiconductor x-ray photon counting detectors. The new retrieval method is derived and presented with results showing good agreement.