X-RAY PHOTOELECTRON HOLOGRAPHY OF ULTRATHIN FILM AND SINGLE CRYSTAL CU(111) : IMPROVING THE ACCURACY OF BOND-LENGTH DETERMINATION
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超薄膜和单晶 CU(111) 的 X 射线光电子全息术：提高键长测定的准确性
DOI：
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发表时间：
1991
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B. Tonner
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Hardcastle;Z. Han;G.R Harp;J. Zhang;B.L Chen;D. K. Saldin;B. Tonner
