Depth Profiling in Thin Films by Grazing Incidence Diffraction using Synchrotron Radiation
Depth Profiling in Thin Films by Grazing Incidence Diffraction using Synchrotron Radiation
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使用同步加速器辐射通过掠入射衍射进行薄膜深度分析
DOI：
10.4028/www.scientific.net/msf.79-82.469
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发表时间：
1991
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Wroblewski
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Wroblewski
