単層カーボンナノチューブの電子制御誘起欠損-水素熱脱離測定による高感度検出
単層カーボンナノチューブの電子制御誘起欠損-水素熱脱離測定による高感度検出
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单壁碳纳米管中的电控诱导缺陷 - 通过氢热脱附测量进行高灵敏度检测
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
ほか
中科院分区：
文献类型：
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作者：
有馬智史;ほか
