一軸性圧力下におけるSiの高密度電子正孔系のテラヘルツ分光
一軸性圧力下におけるSiの高密度電子正孔系のテラヘルツ分光
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单轴压力下硅中致密电子空穴系统的太赫兹光谱
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
島野亮
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鈴木剛;島野亮
