高精度評価系による、光制御ノットゲートのエラー解析II
高精度評価系による、光制御ノットゲートのエラー解析II
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利用高精度评估系统II进行光控结闸门误差分析
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
永田智久;他
