Y.Saino: "Electronic structure of the A-defects measured by STM at 80K"Jpn. J. Appl. Phys.. 38. 3833-3836 (1999)
Y.Saino: "Electronic structure of the A-defects measured by STM at 80K"Jpn. J. Appl. Phys.. 38. 3833-3836 (1999)
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Y.Saino：“在 80K 下通过 STM 测量的 A 缺陷的电子结构”Jpn。
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