T.Nagai: "Dccision of the Priority in the Test Pad Arrangement for EB Testability by Layout Analysis"Proc.Symposium on LSI Testing. 128-133 (1998)
T.Nagai: "Dccision of the Priority in the Test Pad Arrangement for EB Testability by Layout Analysis"Proc.Symposium on LSI Testing. 128-133 (1998)
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T.Nagai：“通过布局分析确定 EB 可测试性的测试焊盘排列的优先级”Proc.LSI 测试研讨会。
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