Dissipation decrease in a proximity region enhanced with a hydrogen-terminated Si tip in non-contact atomic force microscopy
Dissipation decrease in a proximity region enhanced with a hydrogen-terminated Si tip in non-contact atomic force microscopy
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非接触式原子力显微镜中氢封端硅尖端增强了邻近区域的耗散降低
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Arai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Inamura;M. Tomitori;T. Arai
