Keizo Kato: "Evaluation of C15TCNQ Langmuir-Blodgett Ultrathin Films on Aluminum Thin Films by Attenuated Total Reflection Measurements" Jpn.J.Appl. Phys,. 35・10. 5466-5470 (1996)
Keizo Kato: "Evaluation of C15TCNQ Langmuir-Blodgett Ultrathin Films on Aluminum Thin Films by Attenuated Total Reflection Measurements" Jpn.J.Appl. Phys,. 35・10. 5466-5470 (1996)
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加藤敬三：“通过衰减全反射测量评估铝薄膜上的 C15TCNQ Langmuir-Blodgett 超薄膜”Jpn.J.Appl. 35・10 (1996)。
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