Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)を用いた破骨細胞の超微細立体構造の解析
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)を用いた破骨細胞の超微細立体構造の解析
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使用聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）分析破骨细胞的超细三维结构
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
坂井 信裕，松島 英輝，高木 孝士，武部 明，髙見 正道
中科院分区：
文献类型：
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作者：
細沼 雅弘;坂井 信裕，松島 英輝，高木 孝士，武部 明，髙見 正道
