Ion tracks on LiF and CaF2 single crystals characterized by scanning force microscopy
Ion tracks on LiF and CaF2 single crystals characterized by scanning force microscopy
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通过扫描力显微镜表征 LiF 和 CaF2 单晶上的离子轨迹
DOI：
10.1016/s0168-583x(02)00569-4
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发表时间：
2002
影响因子：
1.3
通讯作者：
R. Neumann
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Müller;M. Cranney;A. S. El;N. Ishikawa;A. Iwase;M. Lang;R. Neumann
