Polarization Analyzing Image Sensor with Monolithically Embedded Polarizer using 65nm CMOS Process
Polarization Analyzing Image Sensor with Monolithically Embedded Polarizer using 65nm CMOS Process
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具有采用 65nm CMOS 工艺的单片嵌入式偏振器的偏振分析图像传感器
DOI：
10.7567/ssdm.2010.g-5-2
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Ohta
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Shishido;T. Noda;K. Sasagawa;T. Tokuda;J. Ohta
