Design, manufacture and characterisation of X-ray Computer Tomography (XCT) calibration artefacts for space hardware qualification

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用于空间硬件鉴定的 X 射线计算机断层扫描 (XCT) 校准制品的设计、制造和表征

DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, Conference Proceedings - 23rd International Conference and Exhibition, EUSPEN 2023
影响因子：
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通讯作者：
Keen J.
Keen J.
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Keen J.

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