Carrier life-time measurement in a microcrystalline silicon wire waveguide
Carrier life-time measurement in a microcrystalline silicon wire waveguide
复制标题
微晶硅线波导中的载流子寿命测量
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Maekawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ryohei Takei;Yuriko Maegami;Emiko Omoda;Youichi Sakakibara;Masahiko Mori;and Toshihiro Kamei;Y. Maekawa
