Hitoshi Yamaguchi: "Determination of Trace Impurities in Graphite and Silicon Carbide by Total Reflection X-ray Fluorescence Spectrometry after Homogeneous Liquid-liquid Extraction"ISIJ International. 40. 779-782 (2000)
Hitoshi Yamaguchi: "Determination of Trace Impurities in Graphite and Silicon Carbide by Total Reflection X-ray Fluorescence Spectrometry after Homogeneous Liquid-liquid Extraction"ISIJ International. 40. 779-782 (2000)
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Hitoshi Yamaguchi：“均质液液萃取后通过全反射 X 射线荧光光谱法测定石墨和碳化硅中的痕量杂质”ISIJ International。
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