Quantitative Analysis for thin films by x-ray absorption spectroscopy using synchrotron radiation
Quantitative Analysis for thin films by x-ray absorption spectroscopy using synchrotron radiation
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使用同步辐射的 X 射线吸收光谱对薄膜进行定量分析
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Lay Thi Thi
中科院分区:
文献类型:
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作者:
N. Matsubayashi;M. Imamura;J. Fan;I. Kojima;Lay Thi Thi
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影响因子:
3.9
作者:
Akira Suzuki;Hiroharu Yui
通讯作者:
Hiroharu Yui
影响因子:
5.5
作者:
Ohno, Kohji;Morinaga, Takashi;Fukuda, Takeshi
通讯作者:
Fukuda, Takeshi
影响因子:
5.5
作者:
Ohno, K;Morinaga, T;Fukuda, T
通讯作者:
Fukuda, T
DOI:
10.1209/epl/i2006-10357-4
发表时间:
2006-12-01
期刊:
EUROPHYSICS LETTERS
影响因子:
--
作者:
Duri, A.;Cipelletti, L.
通讯作者:
Cipelletti, L.
影响因子:
3.9
作者:
Ishige R;Williams GA;Higaki Y;Ohta N;Sato M;Takahara A;Guan Z
通讯作者:
Guan Z