B.Tomiyasu,S.Sakasegawa,T.Toba,M.Owari and Y.Nihei: "Shave-off depth profiling of multi-layer samples using a gallium focu ion beam SIMS"Secondary ion mass spectrometry SIMS XII. 473-476 (2000)
B.Tomiyasu,S.Sakasegawa,T.Toba,M.Owari and Y.Nihei: "Shave-off depth profiling of multi-layer samples using a gallium focu ion beam SIMS"Secondary ion mass spectrometry SIMS XII. 473-476 (2000)
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B.Tomiyasu、S.Sakasekawa、T.Toba、M.Owari 和 Y.Nihei：“使用镓聚焦离子束 SIMS 对多层样品进行剃除深度分析”二次离子质谱 SIMS XII。
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